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ZEISS工业CT系统
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ZEISS工业CT系统-METROTOM 1
ZEISS METROTOM 1达到了简捷的新高度,仅需一次扫描即可完成复杂的检测及测量任务,从而对接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷及内部结构进行检测、分析及测量,其兼具高精准、操作便捷、占地面积小、投资回报快等特点。出色的图像质量得益于高分辨率600万像素平板探测器,确保非常出色的图像质量及高分辨率,15 cm 直径的被测对象可达到 65.27µm的体素尺寸。更少的维护保养系统配备COM...
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